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桌面型恒溫恒濕試驗(yàn)箱是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域的測(cè)試設(shè)備，用于測(cè)試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行溫度、濕度或恒定試驗(yàn)的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。

桌面型恒溫恒濕試驗(yàn)箱是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域的測(cè)試設(shè)備，用于測(cè)試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行溫度、濕度或恒定試驗(yàn)的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。

陽(yáng)光模擬試驗(yàn)箱 NSH870-L1滿足常用的陽(yáng)光模擬試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)如DIN75220、VW1211、MIL810G505.5 Proc.B、BMW PR306、ISO12097-2、IEC60068-2-5

兩箱式冷熱沖擊箱用于測(cè)試各種材料在瞬間下經(jīng)高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在最短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。主要應(yīng)用于半導(dǎo)體芯片、科研院校、質(zhì)檢、新能源、光電通訊、航天軍工、汽車行業(yè)、LCD顯示、醫(yī)療等科技產(chǎn)業(yè)。

三箱式冷熱沖擊箱適用于考核產(chǎn)品（整機(jī)）、元器件、零部件等經(jīng)受溫度急劇變化的能力，該溫度沖擊試驗(yàn)?zāi)軌蛄私庠囼?yàn)樣本一次或連續(xù)多次因溫度急劇變化而帶來(lái)的影響。主要應(yīng)用于半導(dǎo)體芯片、科研院校、質(zhì)檢、新能源、光電通訊、航天軍工、汽車行業(yè)、LCD顯示、醫(yī)療等科技產(chǎn)業(yè)。

PCT高壓蒸煮老化箱用于耐濕性評(píng)估和強(qiáng)健性測(cè)試。目的在于用壓縮濕氣和飽和濕氣環(huán)境下，評(píng)估非氣密性封裝固態(tài)元件的抗?jié)裥?。在高壓、高濕條件下加速濕氣滲透（塑封料、芯片鈍化層）或設(shè)計(jì)變更（芯片、觸電尺寸）與金屬導(dǎo)電層間界面的滲透，從而識(shí)別封裝內(nèi)部的失效機(jī)制。

IPX34淋雨試驗(yàn)箱的主要作用是測(cè)試產(chǎn)品在淋雨的氣候環(huán)境下的貯存、運(yùn)輸和使用時(shí)的性能，該設(shè)備主要用于電子　電工產(chǎn)品、燈具、電柜、電器組件、汽車、摩托車及其及零部件等產(chǎn)品在模擬淋雨的氣候條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試后，通過(guò)檢定來(lái)判斷產(chǎn)品的性能是后達(dá)到要求，以便產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、改進(jìn)、檢定及出廠檢驗(yàn)使用。